НЕРУЙНІВНА ДІАГНОСТИКА МІЦНОСТІ НЕРОЗ’ЄМНИХ ЕЛЕМЕНТІВ КОНСТРУКЦІЙ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ

Автор(и)

DOI:

https://doi.org/10.31891/2219-9365-2022-70-2-5

Ключові слова:

неруйнівна діагностика, міцність, герметичність, паяне з’єднання, зварне з’єднання, акустична емісія, електротензометрія

Анотація

Стаття присвячена розробленню методик неруйнівної діагностики нероз’ємних елементів конструкцій електронної техніки, зокрема їх паяним та зварним з’єднанням. Методики неруйнівної діагностики міцності і герметичності побудовані на основі акустико-емісійного і електротензометричного методів вимірювання застосовані в умовах механічного, температурного та пневматичного навантаження. Випробування на міцність паяних з’єднань наскрізного та поверхневого монтажу двох-вивідних електронних компонентів в критичних умовах напружено-деформованого стану під дією простих видів механічного навантаження на відрив та розтяг та випробування паяних з’єднань друкованих плат навантаженням, яке створює напружено-деформований стан, що зустрічається в процесі експлуатації, за схемою навантаження на чистий згин в режимі циклічного пульсуючого навантаження показали зниження міцності та можливість використання параметрів акустичної емісії в якості діагностичних для виявлення дефектів та оцінки міцності паяних з’єднань. Проведено діагностику міцності на основі аналізу напружено-деформованого стану нероз’ємних з’єднань, які використовуються для герметизації модулів надвисоких частот виготовлених із сплаву АМГ-2 двох типів конструкції вузла герметизації виконаних відповідно зварним та паяним з’єднанням, під дією внутрішнього надлишкового тиску та температури. Набула подальшого розвитку акустико-емісійна методика неруйнівної діагностики міцності нероз’ємних елементів конструкцій електронної техніки, зокрема їх паяних та зварних з’єднань.

##submission.downloads##

Опубліковано

30.06.2022

Як цитувати

Ковтун, І., Горошко, А., & Петращук, С. (2022). НЕРУЙНІВНА ДІАГНОСТИКА МІЦНОСТІ НЕРОЗ’ЄМНИХ ЕЛЕМЕНТІВ КОНСТРУКЦІЙ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ. MEASURING AND COMPUTING DEVICES IN TECHNOLOGICAL PROCESSES, (2), 39–47. https://doi.org/10.31891/2219-9365-2022-70-2-5