ВПЛИВ ТИПУ ПІДКЛАДКИ НА СТРУКТУРНО-ОПТИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ТВЕРДИХ РОЗЧИНІВ CdTe1-хSeх

Автор(и)

DOI:

https://doi.org/10.31891/2219-9365-2023-75-25

Ключові слова:

твердий розчин, підкладка, пропускання, відбивання, оптична ширина забороненої зони

Анотація

В даній роботі наведено результати досліджень структурно-оптичних властивостей твердих розчинів CdTe1-хSeх підкладках з кремнію та ІТО/скло. Наведено методику синтезу багатошарових плівкових структур методом високочастотного магнетронного осадження. За даними рентгенівської дифракції проведено фазовий аналіз та уточнення кристалічної структури. Дослідження морфології та структури отриманих твердих розчинів проведено з використанням скануючої електронної мікроскопії. Досліджено спектральну залежність оптичного пропускання отриманих зразків у видимій областях при кімнатній температурі. Для твердих розчинів CdTe1-хSeх на підкладці ІТО/скло визначено оптичну ширину забороненої зони, яка становить 1,62еВ. Для досліджуваних плівок  на різних підкладках оцінено коефіцієнти відбивання.

В даній роботі наведено результати досліджень структурно-оптичних властивостей твердих розчинів CdTe1-хSeх підкладках з кремнію та ІТО/скло. Наведено методику синтезу багатошарових плівкових структур методом високочастотного магнетронного осадження. За даними рентгенівської дифракції проведено фазовий аналіз та уточнення кристалічної структури. Дослідження морфології та структури отриманих твердих розчинів проведено з використанням скануючої електронної мікроскопії. Досліджено спектральну залежність оптичного пропускання отриманих зразків у видимій областях при кімнатній температурі. Для твердих розчинів CdTe1-хSeх на підкладці ІТО/скло визначено оптичну ширину забороненої зони, яка становить 1,62еВ. Для досліджуваних плівок  на різних підкладках оцінено коефіцієнти відбивання.

##submission.downloads##

Опубліковано

29.09.2023

Як цитувати

ВАЩИНСЬКИЙ, В., СЕМКІВ, І., СОЛОВЙОВ, М., КАРКУЛЬОВСЬКА, М., & ІЛЬЧУК, Г. (2023). ВПЛИВ ТИПУ ПІДКЛАДКИ НА СТРУКТУРНО-ОПТИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ТВЕРДИХ РОЗЧИНІВ CdTe1-хSeх. MEASURING AND COMPUTING DEVICES IN TECHNOLOGICAL PROCESSES, (3), 218–223. https://doi.org/10.31891/2219-9365-2023-75-25