MYKHALEVSKIY Д, STALCHENKO О. ASSESSMENT OF THE RELIABILITY OF ELECTRONIC PRODUCTS BY THE LEVEL OF LOW-FREQUENCY NOISE. ВИМІРЮВАЛЬНА ТА ОБЧИСЛЮВАЛЬНА ТЕХНІКА В ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПРОЦЕСАХ [Internet]. 2023 Jun. 29 [cited 2024 May 20];(2):100-4. Available from: https://vottp.khmnu.edu.ua/index.php/vottp/article/view/116