[1]
В. Квасніков, М. Катаєва, і Т. Шкварницька, «РОЗРОБКА МЕТОДУ КАЛІБРУВАННЯ СКАНУЮЧОГО ЗОНДОВОГО МІКРОСКОПУ», ВИМІРЮВАЛЬНА ТА ОБЧИСЛЮВАЛЬНА ТЕХНІКА В ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПРОЦЕСАХ, вип. 2, с. 74–80, Груд 2021.