[1]
КИРИЧУК, Ю., СТАХОВА , А. , НАЗАРЕНКО , Н. і ЗАЄЦЬ , С. 2025. ОГЛЯД МЕТОДІВ, МОДУЛІВ ТЕСТУВАННЯ ПІДСИСТЕМ ТА ПРОГРАМИ ЗАГАЛОМ. MEASURING AND COMPUTING DEVICES IN TECHNOLOGICAL PROCESSES. 82, 2 (Трав 2025), 180–186. DOI:https://doi.org/10.31891/2219-9365-2025-82-24.