[1]
ЦАЙФЕН Z. 2024. БАГАТОШКАЛЬНИЙ МЕТОД КЛАСИФІКАЦІЇ НА ОСНОВІ НЕЙРОННОЇ МЕРЕЖІ ДЛЯ ПАТОЛОГІЧНИХ ЗОБРАЖЕНЬ ШКІРИ. MEASURING AND COMPUTING DEVICES IN TECHNOLOGICAL PROCESSES. 4 (Лис 2024), 348–354. DOI:https://doi.org/10.31891/2219-9365-2024-80-42.